UV-A紫外輻照計(單通道)
UV-A紫外輻照計采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數字芯片，UV-A紫外輻照計外殼為流線型設計，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩定，適用性強。該儀器適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
UV-A紫外輻照計產品特點:
光譜及角度特性經嚴格校正
數字液晶顯示，帶背光
手動/自動量程切換數字輸出接口（USB冗余供電）
低電量提醒
自動延時關機
有數字保持
輕觸按鍵操作，蜂鳴提示
UV-A紫外輻照計主要技術指標:
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探頭（二選其一）： |
UV-420nm 探頭 |
UV-365nm 探頭 |
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波長范圍及峰值波長: |
λ：(375～475)nm；λP＝420nm |
λ：(320～400)nm；λP＝365nm |
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紫外帶外區雜光： |
UV420：小于0.02% |
UV365：小于0.02% |
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輻照度測量范圍： |
(0.1～199.9×103) μW/cm2 |
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相對示值誤差： |
±10%（相對與NIM標準） |
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角度響應特性： |
±5%(α ≤10°) |
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線性誤差： |
±1% |
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短期不穩定性： |
±1%（開機30min后） |
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響應時間： |
1秒 |
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使用環境： |
溫度(0～40)℃，濕度＜85%RH |
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尺寸和重量： |
160mm×78mm×43mm；0.2kg |
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電源： |
常規使用6F22型9V積層電池一只 |
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